数式処理システムとその応用に関する研究

王先生が以下の題目について発表されました。
Test Point Selection for Multi-Cycle Logic BIST using Multivariate Temporal-Spatial GCNs 
Senling Wang, Shaoqi Wei, Hisashi Okamoto, Tatsuya Nishikawa, Kai Hiroshi, Higami Yoshinobu, Hiroyuki Yotsuyanagi, Ruijun Ma, Tianming Ni, Hiroshi Takahashi
The 8th International Test Conference in Asia 2024 2024年8月19日

M2笹川君が以下の題目について発表しました。
Deep-BMNN: Implementing Sparse Binary Neural Networks in Memory-Based Reconfigurable Processor (MRP) 
Kenta Sasagawa, Senling Wang, Tatsuya Nishikawa, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi, Hiroyuki Yotsuyanagi, Tianming Ni, Xiaoqing Wen
The 39th International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers, and Communications (ITC-CSCC 2024) 2024年7月5日

以下の発表を中村君が行いました。
http://www.jssac.org/Conference/Tai/jssac2024-2.html
形式的検証を用いたSAS-L2の安全性の検証
中村凌也(愛媛大学)*,清水健吾(愛媛大学),岡本悠(愛媛大学),王森レイ(愛媛大学),甲斐博(愛媛大学),高橋寛(愛媛大学),清水明宏(愛媛大学)
2024年6月15日（土）10:30-11:00
日本数式処理学会第32回大会，会場：愛媛大学南加記念ホール

以下の発表を黒瀬君、西川君、魏君が行いました。
（１）JPCA Show 2024 / 2024 マイクロエレクトロニクスショー
2024年6月12日（水）～6月14日（金）　東京ビッグサイト
3B-56アカデミックプラザ，愛媛大学大学院理工学研究科
（２）演題：深層強化学習を用いたフライングプローブテスタによる基板検査の高速化
著者：黒瀬楓斗，西川竜也，魏少奇，王森レイ，亀山修一，甲斐博，高橋寛（愛媛大学大学院理工学研究科），岡田和也，柳田幸輝（タカヤ株式会社），6月14日（金） 13:20-13:40，会場：セミナー会場E，セッション：3DMIDセミナー/アカデミックプラザ
https://unifiedsearch.jcdbizmatch.jp/jpca2024/jp/sem/npi3dacademic/seminar_details/BIdRSduxuRQ

以下の発表を行う予定です。

黒瀬楓斗，西川竜也，魏少奇，王森レイ，亀山修一，甲斐博，高橋寛，岡田和也，柳田幸輝，
深層強化学習を利用したフライングプローブテスタによる基板検査の高速化，
2024マイクロエレクトロニクスショー「アカデミックプラザ」，2024年6月12日-14日，東京ビッグサイト

中村凌也，清水健吾，岡本悠，王森レイ，甲斐博，高橋寛，清水明宏，
形式的検証を用いたSAS-L2の安全性の検証，
日本数式処理学会第33回大会，2024年6月14日-16日，愛媛大学

以下の発表を行いました．

• 2024年2月28日（水）電子情報通信学会ディペンダブル研究会
  深層強化学習によるマルチサイクルBIST向けテストポイント選定法
  塩谷晃平、西川竜矢、魏　少奇、王　森レイ、甲斐　博、樋上喜信、高橋　寛 
• 2024年3月13日（水）〜15日（金） 第38回エレクトロニクス実装学会春季講演大会
  ワンタイムパスワード認証方式を用いたJTAGアクセス機構のスケーラビリティ向上について
  岡本　悠、塩谷晃平、西川竜矢、王森レイ、甲斐　博、樋上喜信、高橋　寛、清水明宏
• 2024年3月15日（金）〜17日（日）情報処理学会第86回全国大会
  同期問題を考慮したSAS-L2 を用いたRFID認証プロトコル
  清水健吾、王森レイ、甲斐　博、高橋　寛、清水明宏