愛媛大学大学院 理工学研究科 情報工学講座 ソフトウェアシステム研究室のページです
松山市内会場で計算機・ソフトウェア・知識情報システム研究室(29名?)の3年生歓迎会・忘年会を開催しました。
以下の発表があります
The Workshop on Emerging Test Technologies (ETT) embedded in the 34th Asian Test Symposium (ATS2025)
Dec19(Fri)
LLM–Driven Testability Analysis for Gate-Level Circuits
*Akitaka Ide, Senling Wang, Hiroshi Kai, Yoshinobu Higami, Hiroshi Takahashi (Ehime University, Japan)
A Boundary Scan Design with Interconnect Delay Testing and Region-based Repair for TSVs
*Haruhisa Tsuruoka, Hiroyuki Yotsuyanagi(Tokushima University, Japan), Masaki Hashizume(The Open University of Japan, Japan), Senling Wang, Yoshinobu Higami, Hiroshi Kai, Hiroshi Takahashi(Ehime University, Japan), Tianming Ni(Anhui Polytechnic University, China) and Xiaoqing Wen(Kyushu Institute of Technology, Japan)
THE 34TH IEEE ASIAN TEST SYMPOSIUM (ATS2025)
Dec17(Wed)
Software-Defined Secure Island for Testing Chiplet Systems
*Hisashi Okamoto (Ehime University), Senling Wang (Dept. of Computer Science, Faculty of Engineering, Ehime University), Hiroshi Kai, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami (Ehime University), Hiroyuki Yotsuyanagi (Tokushima University), Tianming Ni (Anhui Polytechnic University), Tai Song (Anhui University), Xiaoqing Wen (Graduate School of Computer Science and Systems Engineering, Kyushu Institute of Technology)
以下の国際会議で研究室の学生が発表する予定です。
Hisashi Okamoto, Senling Wang, Hiroshi Kai, Hiroshi Takahashi, Yoshinobu Higami, Hiroyuki Yotsuyanagi, Tianming Ni, Tai Song and Xiaoqing Wen, Software-Defined Secure Island for Testing Chiplet Systems, The 34th Asian Test Symposium and the 9th International Test Conference in Asia (ATS/ITC-Asia 2025)
Ryoya Nakamura, Senling Wang, Hiroshi Kai, Hiroshi Takahashi and Akihiro Shimizu, A Lightweight and Secure One-time Authentication Protocol for MQTT based on SAS-L2, 2025 IEEE/IEIE International Conference on Consumer Electronics-Asia (ICCE-Asia 2025)
以下の発表があり[ます/ました]。
9月卒業生(山口さん)の卒業論文審査会(2025/8/5(Tue)11:00〜愛媛大学工学部4号館7階708号室)が開催されました。
ノルウェーからの留学生の送別会(松山市内飲食店19:00〜)を開催しました。